光學粗糙度測試

    健明迪檢測提供的光學粗糙度測試,檢測項目:光學粗糙度測試,檢測標準參考:SJ/T11503-2015碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測試方法,具有CMA,CNAS認證資質。
    光學粗糙度測試
    我們的服務 光學粗糙度測試

    檢測流程

    1、寄樣

    2、免費的初檢

    3、報價表

    4、兩方確認,簽署保密協議書,開使試驗

    5、7-10個工作日左右完成試驗

    6、中后期服務,郵寄檢測報告!

    我們的檢測有哪些優勢?

    產品評估:成分分析,分析成分比例,改善生產缺陷,提升產品品質性能

    政府監管:工商檢測,市場監督,項目投標招標,申請退稅基金等

    上市品控:保證自己的產品能順利進入各種電商品臺,商超等

    打通市場:增強企業的認知可信度,擴大市場占有率,提高企業競爭力,彰顯產品品質

    工業診斷:為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務

    檢測標準參考

    DIN ISO 10110-8-2012光學和光子學 光學元件和系統的制圖準備 第8部分:表面結構:粗糙度和波紋

    GB/T 1185-2006光學零件表面疵病

    GOST 4.449-1986產品質量指標體系 檢驗粗糙度和表面質量的光學機械式檢測儀器 指標名稱表

    GOST 9847-1979測量表面粗糙度參數用光學儀器 型式和基本參數

    SJ/T 11503-2015碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測試方法

    VDI/VDE 2655-1.1-2008微地貌的光學測量 粗糙度測量基準顯微鏡和深度調節標準的校準

    檢測樣品:光學部件,晶片等

    檢測項目:光學粗糙度測試

    檢測周期:7-15個工作日(參考周期)

    檢測項目:光學粗糙度測試,檢測標準參考:SJ/T 11503-2015碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測試方法。
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