納米薄膜檢測

    健明迪檢測提供的納米薄膜檢測,檢測項目:厚度檢測,缺陷檢測,指標檢測等,檢測標準參考 GB/T30447-2013納米薄膜接觸角測量方法 GB/T338,具有CMA,CNAS認證資質。
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    檢測標準參考

    GB/T 30447-2013納米薄膜接觸角測量方法

    GB/T 33826-2017玻璃襯底上納米薄膜厚度測量 觸針式輪廓儀法

    GB/T 36969-2018納米技術 原子力顯微術測定納米薄膜厚度的方法

    檢測樣品:納米薄膜

    檢測項目:厚度檢測,缺陷檢測,指標檢測等。

    檢測周期:7-15個工作日(參考周期)

    納米薄膜檢測項目:厚度檢測,缺陷檢測,指標檢測等。檢測周期短,費用低,實驗方案全,真正的一站式檢測服務。
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