半導體集成電路CMOS電路檢測

    健明迪檢測提供的半導體集成電路CMOS電路檢測,檢測項目 輸入正向閩值電壓VIT+,輸入負向闌值電壓VIT-,帶后電壓△VT,檢測標準 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-200,具有CMA,CNAS認證資質。
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    檢測流程

    1、寄樣

    2、初檢樣品

    3、報價

    4、雙方確定,簽訂保密協議,開始實驗。

    5、結束實驗

    6、郵寄檢測報告

    檢測標準

    半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.4

    半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.5

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    半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.14

    檢測項目

    輸入正向閩值電壓VIT+,輸入負向闌值電壓VIT-,帶后電壓△VT,輸出高電平電壓VOH,輸出低電平電壓VOL,輸入高電平電流IIH,輸入低電平電流IL,輸出高電平電流IOH,輸出低電平電流IOL,輸出高阻態時高電平電流IOZH,輸出高阻態時低電平電流IOZL

    檢測周期:7-15個工作日,試驗可加急

    檢測樣品:半導體集成電路CMOS電路

    哪里可以做半導體集成電路CMOS電路檢測?試驗項目:輸入正向閩值電壓VIT+,輸入負向闌值電壓VIT-,帶后電壓△VT,輸出高電平電壓VOH,輸出低電平電壓VOL,輸入高電平電流IIH,輸入低電平電流IL,輸出高電平電流IOH,輸出低電平電流IOL,輸出高阻態時高電平電流IOZH,輸出高阻態時低電平電流IOZL
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