介質擊穿試驗抗彎試驗微柱壓縮試驗

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      介質擊穿試驗

      檢測項目:介質擊穿試驗,檢測標準參考:ASTMF1662-2010檢驗特定介質耐壓和測定膜開關介質擊穿電,具有CMA,CNAS認證資質。

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      抗彎試驗

      檢測項目:抗彎試驗,檢測標準參考:DIN53435-1983塑料的檢驗;對測力試樣作彎曲試驗和沖擊抗,具有CMA,CNAS認證資質。

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      微柱壓縮試驗

      檢測項目:微柱壓縮試驗,檢測標準參考:DINEN62047-10-2012半導體器件微電機器件第1部分,具有CMA,CNAS認證資質。

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      鎖定試驗

      檢測項目:拉拔試驗,鎖定力試驗等,檢測標準參考:DINEN60749-29-2012半導體器件機械和氣候試驗方法第,具有CMA,CNAS認證資質。

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      抗扭強度試驗

      檢測項目:抗扭強度測試,檢測標準參考:GB/T34217-2017耐火材料高溫抗扭強度試驗方法,具有CMA,CNAS認證資質。

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      光電倍增管測量

      檢測項目:特性測量,指標檢測,性能測試,飽和度測量等,檢測標準參考:GOST11612.1-1981光電倍增管:光電陰極的光靈敏度測量,具有CMA,CNAS認證資質。

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