半導(dǎo)體電子元器件可靠性測試：溫度試驗方法介紹

溫度試驗持續(xù)的時間的確定

在化學(xué)中一條常用的規(guī)律是在高溫下反應(yīng)的速度要快一些。 這一規(guī)律被應(yīng)用到技術(shù)中，以便進行加速試驗，這也被稱為阿侖尼斯方程。

阿侖尼斯關(guān)系從數(shù)學(xué)上的表示為：

AF(T)=e^(EA/K)*(1/T實際– 1/T試驗室)
式中數(shù)值：
AF= 加速度系數(shù)
Ea=激活能
K=玻爾茲曼常數(shù)(8.65×10-5ev/K)
T實際=在實際負荷下的溫度(絕對溫度)
T實驗室=在實驗室負荷下的溫度(絕對溫度)
為確定加速度系數(shù)激活能必須是已知的，對于一般的電子元件經(jīng)常采用的值是：Ea=0.44Ev

在產(chǎn)品不工作時進行的低溫或高溫實驗，試驗的持續(xù)時間為試驗樣品達到溫度穩(wěn)定后，根據(jù)試驗樣品的特點和試驗?zāi)康拇_定。也可從下列等級中選?。?，16，72，96h。t = t穩(wěn)定+ to (to由計算產(chǎn)生或=2，16，72，96h) 。

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溫度試驗區(qū)域中試件的擺放

多個樣品在同一試驗箱進行高溫實驗時，應(yīng)保證所有樣品都處在同一環(huán)境溫度下，并具有相同的安裝條件。
對于散熱樣品而言，各個試件之間不能因輻射散熱而影響到其它試件，即試件間間隔應(yīng)足夠大，這樣對于單個試件來說，其他散熱試件輻射到其上的熱量所造成的溫度變化就很小，到可忽略的程度。
對于非散熱試件，溫度保持不變的高溫或低溫試驗，試件間的間距可以不做要求，因為溫度恒定后試件的溫度與溫度試驗箱內(nèi)的溫度保持一致，不發(fā)生熱量交換，試件間的間距對試驗不會產(chǎn)生影響。
非散熱試件的溫度變化試驗試件間則應(yīng)該保持間隔，使試驗件之間有足夠的空氣流動，加速試件與溫度試驗箱之間的熱交換，使試件盡快達到試驗指定的溫度。

溫度試驗區(qū)域空氣速度的影響

試驗區(qū)域中空氣和試驗樣品間的熱交換效率取決于空氣流動的速度。
對于非散熱試件，較高的空氣流動速度可以使試件各部分的溫度較快速的達到周圍空氣的溫度。一般在試驗區(qū)域未擺放試件的情況下，空氣流動速度應(yīng)不低于2m/s。
對于散熱試件，試件樣品最熱點的溫度高于周圍環(huán)境溫度時，應(yīng)在無強迫空氣流動（自由空氣條件）的環(huán)境下進行試驗，否則試件的溫度將被降低，從而減小試驗的嚴酷程度。

產(chǎn)品溫度試驗要點

對于目前的產(chǎn)品來說，在未工作狀態(tài)產(chǎn)品本身不產(chǎn)生熱量，因此在試件未工作狀態(tài)進行的溫度試驗都可作為非散熱試件來處理。
在工作狀態(tài)進行溫度試驗的產(chǎn)品目前主要有燃油泵，點火線圈，怠速調(diào)節(jié)器等。
這些產(chǎn)品如在工作條件下進行溫度試驗都應(yīng)作為散熱試件。特別是點火線圈，工作時的發(fā)熱量較大，應(yīng)對其上的溫度進行監(jiān)測。

溫度是物質(zhì)內(nèi)部分子（原子，電子）運動能量（內(nèi)能）的一種外在表征形式，溫度越高表示物質(zhì)內(nèi)部分子無規(guī)則的運動越劇烈，兩物體間的溫度相差也越大，在兩物體之間的熱交換量也越多。溫度試驗是質(zhì)量與可靠性工程師經(jīng)常開展的環(huán)境試驗，本文帶大家聊聊半導(dǎo)體電子元器件可靠性測試中溫度試驗的相關(guān)知識吧。