電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)

    健明迪檢測提供的電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn),試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫 IEC60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2-1部分,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
    電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)
    試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
    GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
    IEC 60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2-1部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫
    GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分:總則
    GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
    GB/T 2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
    GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
    試驗(yàn)背景
    低溫試驗(yàn)可以試驗(yàn)產(chǎn)品在低限值工作環(huán)境溫度下的性能變化;試驗(yàn)產(chǎn)品在低溫的情況下能不能夠使用(比如手機(jī)能否啟動);試驗(yàn)產(chǎn)品在測試是能否帶電測試(比如手機(jī)在低溫情況下是否能夠邊充電邊使用)。 電子電工產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)康氖强己嘶虼_定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和(或)使用的適應(yīng)性。
    健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗(yàn)服務(wù)。
    電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
    健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗(yàn)服務(wù)。
    試驗(yàn)方法
    1、試驗(yàn)Ab:非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn) 本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行非散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn),試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時問以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
    2、試驗(yàn)Ad:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)─試驗(yàn)樣品在溫度開始穩(wěn)定后通電 本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn),試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
    3、試驗(yàn)Ae:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)—試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程通電 本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn),試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定,并且要求試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程中通電。
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