光纖溫度循環(huán)試驗(yàn)
健明迪檢測提供的光纖溫度循環(huán)試驗(yàn)，試驗(yàn)程序 1、試驗(yàn)條件 按照詳細(xì)規(guī)范規(guī)定，將試樣放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，經(jīng)受規(guī)定期間內(nèi)溫度變化，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)程序
1、試驗(yàn)條件
按照詳細(xì)規(guī)范規(guī)定，將試樣放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，經(jīng)受規(guī)定期間內(nèi)溫度變化。
2、測量
傳輸特性測量、機(jī)械性能測量
3、預(yù)處理
如有要求，試樣應(yīng)按照詳細(xì)規(guī)范進(jìn)行預(yù)處理。
4、條件調(diào)節(jié)
在進(jìn)行基準(zhǔn)測量前應(yīng)使試驗(yàn)箱和試樣穩(wěn)定在規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下。按照規(guī)定的嚴(yán)酷度調(diào)整試驗(yàn)箱的溫度和濕度。在最長5 min時間內(nèi)，平均升溫速度應(yīng)不超過1℃/min。使樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定，并在規(guī)定期間內(nèi)維持該溫度和濕度不變。
5、恢復(fù)
如果沒有特殊要求，試樣應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)12 h 以上，但不得超過48 h。詳細(xì)規(guī)范可要求在恢復(fù)階段進(jìn)行測量，如有此要求，詳細(xì)規(guī)范應(yīng)規(guī)定什么時候，進(jìn)行哪些方面的測量。
按照詳細(xì)規(guī)范規(guī)定，將試樣放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，經(jīng)受規(guī)定期間內(nèi)溫度變化。
2、測量
傳輸特性測量、機(jī)械性能測量
3、預(yù)處理
如有要求，試樣應(yīng)按照詳細(xì)規(guī)范進(jìn)行預(yù)處理。
4、條件調(diào)節(jié)
在進(jìn)行基準(zhǔn)測量前應(yīng)使試驗(yàn)箱和試樣穩(wěn)定在規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下。按照規(guī)定的嚴(yán)酷度調(diào)整試驗(yàn)箱的溫度和濕度。在最長5 min時間內(nèi)，平均升溫速度應(yīng)不超過1℃/min。使樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定，并在規(guī)定期間內(nèi)維持該溫度和濕度不變。
5、恢復(fù)
如果沒有特殊要求，試樣應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)12 h 以上，但不得超過48 h。詳細(xì)規(guī)范可要求在恢復(fù)階段進(jìn)行測量，如有此要求，詳細(xì)規(guī)范應(yīng)規(guī)定什么時候，進(jìn)行哪些方面的測量。
試驗(yàn)背景
溫度變化情況下產(chǎn)生的光纜衰減變化通常是由于光纖彎曲和拉伸引起的，是因?yàn)楣饫w的熱膨脹系數(shù)與光纜加強(qiáng)件和護(hù)套的熱膨脹系數(shù)的差異而引起的。
光纖產(chǎn)品溫度循環(huán)試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定A1類多模光纖和B類單模光纖在實(shí)際應(yīng)用、貯存和（或）運(yùn)輸過程中可能發(fā)生的溫度變化環(huán)境條件下的適應(yīng)性能。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種光纖的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楣饫w產(chǎn)品提供專業(yè)的溫度循環(huán)試驗(yàn)服務(wù)。
光纖產(chǎn)品溫度循環(huán)試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定A1類多模光纖和B類單模光纖在實(shí)際應(yīng)用、貯存和（或）運(yùn)輸過程中可能發(fā)生的溫度變化環(huán)境條件下的適應(yīng)性能。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種光纖的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楣饫w產(chǎn)品提供專業(yè)的溫度循環(huán)試驗(yàn)服務(wù)。
光纖溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種光纖的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楣饫w產(chǎn)品提供專業(yè)的溫度循環(huán)試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 15972.52 -2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第52部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗(yàn)程序 溫度循環(huán)
IEC60793-1-52：2001 光纖 第1-52部分：測量方法和試驗(yàn)程序-溫度循環(huán)
GB/T 15972.10-2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第10部分：測量方法和試驗(yàn)程序 總則
GB/T 15972.40-2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第40部分：傳輸特性和光學(xué)特性的測量方法和試驗(yàn)程序 衰減
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第22部分 ：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N： 溫度變化
GB/T 15972.32-2021 光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第32部分：機(jī)械性能的測量方法和試驗(yàn)程序 涂覆層可剝性
IEC60793-1-52：2001 光纖 第1-52部分：測量方法和試驗(yàn)程序-溫度循環(huán)
GB/T 15972.10-2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第10部分：測量方法和試驗(yàn)程序 總則
GB/T 15972.40-2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第40部分：傳輸特性和光學(xué)特性的測量方法和試驗(yàn)程序 衰減
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第22部分 ：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N： 溫度變化
GB/T 15972.32-2021 光纖試驗(yàn)方法規(guī)范 第32部分：機(jī)械性能的測量方法和試驗(yàn)程序 涂覆層可剝性
試驗(yàn)范圍
A1類多模光纖、B類單模光纖等光纖產(chǎn)品。
