光學儀器污染、太陽輻射綜合試驗

綜合試驗條件下的嚴酷等級遠高于任意單一試驗條件下的嚴酷等級。 試驗應在規(guī)定的環(huán)境大氣條件下進行，同時應按照規(guī)定相關要求進行。 試樣表面應定向，以免試劑在試驗中流失。
若試驗中采用液體試劑，則試劑使用量應在試樣表面形成直徑約為10 mm的圓斑。
在試驗中，試劑不應互相污染。如果試劑為涂漬液，必要時宜在多片試樣上試驗。
如果是黏性或糊狀試劑，應如前所述在試樣表面形成一個薄薄的均勻分布的圓斑（厚度約為0.01 mm）。在試驗中，宜注意試劑可能會因受熱擴散。在試驗中蒸發(fā)的試劑不應替換。
如果儀器或部件在使用中可能被整體污染，而不僅僅是個別元件被污染，則相關規(guī)范應要求將整臺儀器或部件作為試樣進行條件試驗。
按規(guī)定對試樣進行預處理后，應用霧化噴嘴將所規(guī)定試劑充分均勻地噴涂在試樣表面。不應更換在試驗過程中蒸發(fā)的試劑。

光學和光子學儀器污染、太陽輻射綜合試驗目的是研究儀器，尤其是儀器的表面、涂層或合成材料短時間內(nèi)受試劑腐蝕及太陽輻射的抵御能力。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環(huán)境試驗能力，為光學和光子學儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的污染、太陽輻射綜合試驗等環(huán)境試驗服務。

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GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-17：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗
GB/T 12085.17-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗
GB/T 12085.9-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第9部分：太陽輻射與風化
GB/T 12085.12-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第12部分：污染
BS ISO 9022-17：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗
KS B ISO 9022-17：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗

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