試驗標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第1部分:總則 GB/T4937.11-2018半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第11部分:快速,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第1部分:總則 GB/T4937.12-2012半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第12部分:掃頻,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第1部分:總則 GB/T4937.13-2018半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第13部分:鹽霧,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第1部分:總則 GB/T4937.14-2018半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第14部分:引出,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第1部分:總則 GB/T4937.15-2018半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第15部分:通孔,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第1部分:總則 GB/T4937.19-2018半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第19部分:芯片,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
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