試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2423.52-2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)77:結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊 IEC60068-2-77:1999環(huán)境試驗(yàn)第2部分,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2423.53-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Xb:由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損 IEC60068-2-70:199,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2424.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 GB/T2423.27-2020環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)方法和導(dǎo)則,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)類型 1、偶然性污染試驗(yàn)(A類)將流體浸漬、噴灑或刷涂試驗(yàn)樣品,確保試樣整個表面濕潤,并自然瀝干,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則 GB/T2423.55-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eh:錘擊試驗(yàn) GB/T,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則 GB/T2423.60-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng),具有CMA,CNAS資質(zhì)。
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