電子元器件的低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及條件有哪些

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    電子元器件的低氣壓試驗(yàn)條件
    1)試驗(yàn)氣壓
    GJb 548共列出了A、B、C、D、E、F、G7個(gè)不同條件下的高度氣壓值,并且所給出的試驗(yàn)條件有一定的規(guī)律性,隨著飛行高度由低到高,氣壓值由大變??;GJb 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J 10個(gè)不同條件下的高度氣壓值,并且所列的高度-氣壓表中的試驗(yàn)條件由A到試驗(yàn)條件E有一定的規(guī)律性,隨著飛行高度由低到高,氣壓值由大變小,而由試驗(yàn)條件F到試驗(yàn)條件J沒有呈現(xiàn)規(guī)律性。與GJb 548所列的試驗(yàn)條件對(duì)比,GJb 360試驗(yàn)條件增加了條件H到試驗(yàn)條件J,對(duì)應(yīng)的氣壓高度條件分別為:H:3 000m 70kPa;J:18 000m,7、6kPa;K:25 000m, 2、5 kPa。
    2)試驗(yàn)時(shí)間
    GJb 360B-2009規(guī)定:

    若無其他規(guī)定,試驗(yàn)樣品在低氣壓條件下的試驗(yàn)時(shí)間,可從下列數(shù)值中選取:
    5min、30min、1h、2h、4h和16h。
    3)升降壓速率
    通常不大于10kPa/min

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    電子元器件的低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
    1) G J B 150.2A-2009《軍工裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分低氣壓( 高度) 試驗(yàn)》;
    2) G J B 360B-2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法105低氣壓試驗(yàn)》( 等效美軍標(biāo)M IL—STD-202F) ;
    3) G J B 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序方法1001低氣壓( 高空作業(yè))》標(biāo)M IL—STD-883D);
    4) G B2421—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)總則》;
    5)G B/T 2423.25—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法;
    6) G B/T 2423,21—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M 低氣壓試驗(yàn)方法》;
    7)G B2423.27—2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM D 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》;
    8) G B/T 2423、26—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》;
    9) G B/T 2424.15—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》。

    電子元器件的低氣壓試驗(yàn)的目的
    1)確定產(chǎn)品在常溫條件下能否耐受低氣壓環(huán)境,在低氣壓環(huán)境下正常工作。以及耐受空氣壓力快速變化的能力。
    2)確定常溫條件下元件和材料在低氣壓下耐電擊穿的能力,確定密封元件耐受氣壓差不被破壞的能力,確定低氣壓對(duì)元件工作特性的影響。
    3)確定元器件和材料在氣壓減小時(shí),由于空氣和其他絕緣材料的絕緣強(qiáng)度減弱抗電擊穿失效的能力。

    電子元器件是很多行業(yè)中較常使用的零部件之一,而電子元器件的可靠性會(huì)受到多種因素的綜合影響,特別是電子元器件處于低氣壓的環(huán)境中時(shí),它的散熱、電性能、密閉性能等性能也會(huì)受到影響,從而影響設(shè)備整體的性能穩(wěn)定。因此對(duì)電子元器件進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)有著重要意義。那電子元器件的低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及條件有哪些? 電子元器件的低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
    電子元器件的低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及條件有哪些
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    健明迪檢測(cè)提供的電子元器件的低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及條件有哪些 ,電子元器件的低氣壓試驗(yàn)條件 1)試驗(yàn)氣壓 GJb548共列出了A、B、C、D、E、F、G7個(gè)不同條件下的高度氣壓值,并且所給出的試驗(yàn)條件有一定的規(guī)律性,具有CMA,CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
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